SN74BCT8374ANTの技術仕様
Texas Instruments - SN74BCT8374ANT技術仕様、属性、パラメーター、およびTexas Instruments - SN74BCT8374ANT仕様に似たパーツ
製品属性 | 属性値 | |
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メーカー | Texas Instruments | |
供給電圧 | 4.5V ~ 5.5V | |
サプライヤデバイスパッケージ | 24-PDIP | |
シリーズ | 74BCT | |
パッケージ/ケース | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | |
パッケージ | Tube |
製品属性 | 属性値 | |
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運転温度 | 0°C ~ 70°C | |
ビット数 | 8 | |
装着タイプ | Through Hole | |
論理タイプ | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops | |
基本製品番号 | 74BCT8374 |
右側の三つのパーツはTexas Instruments SN74BCT8374ANTと同様の仕様
製品属性 | ![]() |
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部品型番 | SN74BCT8374ANT | SN74BCT8240ADWR | SN74BCT760DWR | SN74CB3Q16211GQLR |
メーカー | Texas Instruments | Texas Instruments | Texas Instruments | Texas Instruments |
パッケージ | Tube | Tape & Reel (TR) | Tape & Reel (TR) | Tape & Reel (TR) |
ビット数 | 8 | 8 | - | - |
パッケージ/ケース | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | 56-VFBGA |
基本製品番号 | 74BCT8374 | 74BCT8240 | 74BCT760 | 74CB3Q16211 |
シリーズ | 74BCT | 74BCT | 74BCT | 74CB |
運転温度 | 0°C ~ 70°C | 0°C ~ 70°C | 0°C ~ 70°C (TA) | -40°C ~ 85°C |
論理タイプ | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops | Scan Test Device with Inverting Buffers | Buffer, Non-Inverting | - |
装着タイプ | Through Hole | Surface Mount | Surface Mount | Surface Mount |
サプライヤデバイスパッケージ | 24-PDIP | 24-SOIC | 20-SOIC | 56-BGA Microstar Junior (7x4.5) |
供給電圧 | 4.5V ~ 5.5V | 4.5V ~ 5.5V | - | - |
SN74BCT8374ANT - Texas InstrumentsのSN74BCT8374ANT PDFデータテーブルとTexas Instrumentsドキュメントをダウンロード
一般的な国のロジスティック時間参照 | ||
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地域 | 国 | ロジスティック時間(日) |
アメリカ | アメリカ | 5 |
ブラジル | 7 | |
ヨーロッパ | ドイツ | 5 |
イギリス | 4 | |
イタリア | 5 | |
オセアニア | オーストラリア | 6 |
ニュージーランド | 5 | |
アジア | インド | 4 |
日本 | 4 | |
中東 | イスラエル | 6 |
DHLおよびFEDEXの発送料のリファレンス | |
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発送料(kg) | 参照DHL(USD $) |
0.00kg-1.00kg | USD$30.00 - USD$60.00 |
1.00kg-2.00kg | USD$40.00 - USD$80.00 |
2.00kg-3.00kg | USD$50.00 - USD$100.00 |
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